近日，杭州广立微电子股份有限公司提神推出了新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000。该系列居品是对公司现存并行perpin测试竖立T4100S的进军补充，大致笼罩不同用户的使用需求。T4000的上市进一步拓展了公司的居品线，象征着广立微在晶圆级电性测试竖立范畴得回了又一紧要碎裂。

　　该系统率有丰富的WAT、WLR测试算法库，适配千般主流WAT探针卡，支撑海外上各主要型号的探针台，大致高效完成扫数通例WAT参数、通例WLR 参数以及addressable等先进测试芯片的测试，可平淡哄骗于WAT, WLR及SPICE等范畴。

　　比拟市集上同类竖立，T4000系列测试每片晶圆所需的时刻大幅度缩小，普及幅度达20%至200%，具有很高的性价比，更相宜对本钱较为敏锐的8英寸及以下产线。因其功能全面、巩固性高、兼容性好，不仅不错用于新的产线，还可用于替代原有晶圆厂老旧的测试竖立。

　　T4000系列主要上风

　　看成广立微自主研发的通用型半导体参数测试系统，T4000系列遴选了新一代超低走电可推广矩阵开关，具有精度高、速率快、天真建设的特色，最高支撑100 个测量引脚，收场多个module并行测试。由于其结构蓄意先进，具备完善的自检和自校准功能，因此系统的巩固性和一致性均得到权贵普及。T4000系列字据不同需乞降使用场景，提供了三个主要型号，通俗客户选拔。

　　T4000系列型号建设表

　　自2010年运转进入研发以来，广立微一直奋力于于开垦和提供技巧卓著、具有海外竞争力的半导体参数测试系统，现已发展成为国内独一大致向集成电路量产线供应WAT测试竖立的企业。经由20多条客户产线上百台竖立的永久考据，广立微的WAT测试竖立具有质料可靠、功能皆全、一致性强、测量精度高、测试恶果快、交货周期短、处事保险好等特色。这次广立微推出T4000系列通用型高性能半导体参数测试系统，必将为公司的业务拓展注入新的动能。

　　将来，广立微将陆续打造更多具有海外竞争力的技巧翻新与相反化居品，为客户和市集提供性能优厚、坐蓐恶果高和性价比高的测试竖立处罚决策，为客户创造更大价值。